申請(qǐng)辦理無(wú)損檢測(cè)CMA/CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證需要多少錢(qián)時(shí)間
6.5計(jì)量溯源性 6.6外部提供的產(chǎn)品和服務(wù) 7過(guò)程要求 7.1要求、標(biāo)書(shū)和合同的評(píng)審 7.2方法的選擇、驗(yàn)證和確認(rèn) 7.2.1.1實(shí)驗(yàn)室應(yīng)根據(jù)本單位申請(qǐng)檢測(cè)的產(chǎn)品,依據(jù)申請(qǐng)認(rèn)可的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),編制無(wú)損檢測(cè)工 藝規(guī)程。無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程通常包括通用工藝規(guī)程和/或工藝卡。 7.3抽樣 7.4檢測(cè)和校準(zhǔn)物品的處置 7.5技術(shù)記錄 7.6測(cè)量不確定度的評(píng)定 7.7確保結(jié)果的有效性 
7.8報(bào)告結(jié)果 7.9投訴 7.10不符合工作 7.11數(shù)據(jù)控制和信息管理 8管理體系要求 8.1方式 8.2管理體系文件(方式A) 8.3管理體系文件的控制(方式A) 8.4記錄控制(方式A) 8.5應(yīng)對(duì)風(fēng)險(xiǎn)和機(jī)遇的措施(方式A) 8.6改進(jìn)(方式A) 8.7糾正措施(方式A) 8.8內(nèi)部審核(方式A) 8.9管理評(píng)審(方式A)
無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查要求
A.1射線(xiàn)檢測(cè) A.1.1射線(xiàn)設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線(xiàn),曝光曲線(xiàn)每年至少核查一次;射線(xiàn)設(shè)備更換重要部件 或經(jīng)較大修理后,應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線(xiàn)進(jìn)行核查。 A.1.2黑度計(jì)(光學(xué)密度計(jì))至少每6個(gè)月,應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)密度片進(jìn)行核查,方法參照NB/T 47013.2《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第2部分射線(xiàn)檢測(cè)》相關(guān)附錄要求。 A.1.3標(biāo)準(zhǔn)密度片每2年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)),方法參照J(rèn)JG452《黑白密度片 檢定規(guī)程》。 
A.1.4個(gè)人劑量計(jì)、劑量報(bào)警儀應(yīng)按相關(guān)的國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程的要求送法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu) 進(jìn)行檢定。 A.1.5觀片燈的亮度和均勻度,應(yīng)每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)。 A.2超聲檢測(cè) A.2.1初次使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊,應(yīng)有有效的合格證書(shū)。 
A.2.2標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊每次使用前,應(yīng)進(jìn)行外觀腐蝕及機(jī)械損傷情況核查;每隔4年 應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的器具對(duì)其半徑及其它尺寸進(jìn)行核查。 A.2.3脈沖反射式超聲波探傷儀每1年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)),方法參照J(rèn)JG746 《超聲探傷儀檢定規(guī)程》。 A.2.4脈沖反射式超聲波探傷儀每隔3個(gè)月,應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性核 查,方法參照J(rèn)B/T10061《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件》。 
A.2.5探頭使用前,應(yīng)進(jìn)行前沿距離(入射點(diǎn))、K值(折射角β)與雙峰、主聲束偏離 等主要參數(shù)核查,方法參照J(rèn)B/T10062《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》。 
A.2.6超聲檢測(cè)系統(tǒng)每次使用前,斜探頭應(yīng)進(jìn)行前沿距離(入射點(diǎn))、K值(折射角β) 與主聲束偏離等核查;直探頭應(yīng)進(jìn)行始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下)、靈敏度余量和分辨 力等核查,方法參照J(rèn)B/T9214《無(wú)損檢測(cè)A型脈沖反射式超聲檢測(cè)系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法》和(或)JB/T10062《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》。 
A.3磁粉檢測(cè) A.3.1永久磁鐵或電磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力,至少每半年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的提升力重力試 塊進(jìn)行核查。 A.3.2提升力重力試塊,每2年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的稱(chēng)重器具進(jìn)行核查。 A.3.3磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流表,至少每半年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn))。 A.3.4黑光輻照計(jì)、照度計(jì)、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、毫特斯拉計(jì)等,至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)(或 內(nèi)部校準(zhǔn))。
A.3.5設(shè)備內(nèi)部短路檢查、電流載荷、通電時(shí)間等,至少每年進(jìn)行核查。 A.3.6磁粉檢測(cè)系統(tǒng)綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),每次檢測(cè)前,用標(biāo)準(zhǔn)試片、標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行 核查。 A.3.7對(duì)于熒光磁粉檢測(cè),每次檢測(cè)前,應(yīng)采用黑光輻照計(jì)對(duì)被檢測(cè)表面的黑光輻照度進(jìn) 行核查,采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查;對(duì)于非熒光磁粉檢測(cè),每次檢 測(cè)前,應(yīng)采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查。 A.4滲透檢測(cè) A.4.1黑光輻照度計(jì)、熒光亮度計(jì)和照度計(jì)等,至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn))。 
A.4.2對(duì)于熒光滲透檢測(cè),每次檢測(cè)前,應(yīng)采用黑光輻照計(jì)對(duì)被檢測(cè)表面的黑光輻照度進(jìn) 行核查,采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查;對(duì)于非熒光滲透檢測(cè),每次檢 測(cè)前,應(yīng)采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查。 A.5厚度檢測(cè) A.5.1超聲測(cè)厚儀每1年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)),方法參照J(rèn)JF1126《超聲波測(cè)厚 儀校準(zhǔn)規(guī)范》。 A.5.2涂層測(cè)厚儀每1年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)),方法參照J(rèn)JG818《磁性、電渦 流式覆層厚度測(cè)量?jī)x檢定規(guī)程》。
6.6外部提供的產(chǎn)品和服務(wù) 6.6.2c)實(shí)驗(yàn)室委托外部制樣時(shí),應(yīng)對(duì)委托樣品制備單位的設(shè)備進(jìn)行核查,并保留符 合性核查記錄。實(shí)驗(yàn)室委托外部進(jìn)行取樣和試樣加工時(shí),應(yīng)監(jiān)督評(píng)價(jià)被委托方的工作, 并保存其工作符合要求的記錄。 對(duì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和影響檢測(cè)結(jié)果的試劑(如:檢測(cè)用助熔劑、氣體),實(shí)驗(yàn)室應(yīng)進(jìn)行 符合性檢查,檢查其標(biāo)簽、證書(shū)或其他證明文件的信息,必要和可行時(shí)通過(guò)適當(dāng)?shù)募? 術(shù)手段進(jìn)行驗(yàn)證,以確保滿(mǎn)足檢測(cè)方法以及檢測(cè)對(duì)象的要求,并保存記錄。 
6.6.3實(shí)驗(yàn)室委托外部進(jìn)行取樣和試樣加工時(shí),應(yīng)明確告知取樣和試樣加工的程序和 技術(shù)要求,并明確加工關(guān)鍵參數(shù)的具體指標(biāo)。 7過(guò)程要求 7.1要求、標(biāo)書(shū)和合同的評(píng)審 7.1.1c)實(shí)驗(yàn)室委托外部制樣時(shí),應(yīng)告知客戶(hù)制樣活動(dòng)由外部機(jī)構(gòu)提供,并獲得客戶(hù) 同意。
7.2方法的選擇、驗(yàn)證和確認(rèn) 7.2.1方法的選擇和驗(yàn)證 7.2.1.1實(shí)驗(yàn)室開(kāi)展力學(xué)性能檢測(cè)時(shí),應(yīng)防止不正確的試樣夾持或放置對(duì)檢測(cè)結(jié)果的 影響。使用不同標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行力學(xué)性能檢測(cè)時(shí),應(yīng)注意標(biāo)準(zhǔn)之間的差異部分,包括試樣尺 寸和精度、對(duì)設(shè)備的要求、試驗(yàn)過(guò)程的要求、計(jì)算結(jié)果的修約等。用同一臺(tái)火花放電 原子發(fā)射光譜儀對(duì)不同基體材料進(jìn)行化學(xué)分析時(shí),應(yīng)有程序保證在基體切換時(shí)不會(huì)造 成元素干擾。 
7.2.1.2采用與標(biāo)準(zhǔn)圖譜比較的方法進(jìn)行金相評(píng)估檢驗(yàn)時(shí),應(yīng)至少配有一套原版圖譜 或標(biāo)準(zhǔn)圖譜圖集。為方便操作而進(jìn)行的復(fù)制,應(yīng)確保與原版圖譜或標(biāo)準(zhǔn)圖譜的一致性 (大小、色彩、灰度、分辨率等)。 
7.2.1.3實(shí)驗(yàn)室對(duì)抽樣和取樣活動(dòng)在必要時(shí)應(yīng)制訂作業(yè)指導(dǎo)書(shū),取樣作業(yè)指導(dǎo)書(shū)應(yīng)規(guī) 定取樣部位、取樣方向、取樣量和取樣方法。對(duì)力學(xué)性能檢測(cè)、金相檢驗(yàn)及微觀結(jié)構(gòu) 檢測(cè)、儀器法化學(xué)成分分析的試樣制備應(yīng)制定作業(yè)指導(dǎo)書(shū),明確加工及其他相關(guān)的技 術(shù)要求,如關(guān)鍵參數(shù)的具體指標(biāo)(尺寸、形位公差、表面粗糙度等)、避免加工硬化 和過(guò)熱等要求。必要時(shí),力學(xué)性能檢測(cè)的制樣作業(yè)指導(dǎo)書(shū)應(yīng)有相應(yīng)的圖紙,并對(duì)加工 的試樣圖紙進(jìn)行管理和控制。微觀結(jié)構(gòu)分析如果采用通則方法,應(yīng)針對(duì)檢測(cè)對(duì)象制定 具體的作業(yè)指導(dǎo)書(shū)。 
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