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青島帝中計(jì)量儀器有限公司

主營:測量投影儀/工具顯微鏡/表面粗糙度儀/涂層測厚儀/色差計(jì)/光澤計(jì)
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[供應(yīng)]供應(yīng)三豐粗糙度輪廓測量儀一級代理商
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  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:日本三豐
  • 產(chǎn)品品牌:日本三豐
  • 包裝規(guī)格:SV-C3100/4100
  • 產(chǎn)品數(shù)量:10
  • 計(jì)量單位:臺
  • 產(chǎn)品單價(jià):0
  • 更新日期:2014-09-29 09:11:19
  • 有效期至:2015-09-29
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供應(yīng)三豐粗糙度輪廓測量儀一級代理商 詳細(xì)信息

產(chǎn)品簡介
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅(qū)動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進(jìn)一步減少了總的測量時(shí)間。為了更長時(shí)間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅(jiān)固的陶瓷導(dǎo)軌

詳細(xì)介紹



Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100 

簡單介紹 
三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅(qū)動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進(jìn)一步減少了總的測量時(shí)間。
為了更長時(shí)間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅(jiān)固的陶瓷導(dǎo)軌;驅(qū)動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此,在垂直方向?qū)π】走B續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復(fù)測量的重復(fù)精度得以提高。 

特長:
本機(jī)為電動型支柱,觸針式輪廓形狀、表面粗度量測兩用的復(fù)合機(jī)。
輪廓形狀量測用Z軸檢出器搭載Holographic光學(xué)尺(SV-C4100)、反射型光學(xué)尺(SV-C3100)。
表面粗度量測用Z軸檢出裝置,可對應(yīng)ISO/新JIS。
檢出器的滑動部為2段式,可提升檢出器交換時(shí)的操作性。
資料處理軟體,可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價(jià)解析。
資料處理裝置的通訊系統(tǒng)使用RS-232C。 

表面粗糙度測量

直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。

*S4型、H4型、W4型;L為驅(qū)動長度(mm)

符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標(biāo)準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)配置:高精度測頭(0.75mN/4mN測力),分辨率高至0.0001μm。

 

自動測量

在與CNC機(jī)型配套使用的眾多外設(shè)選件的支持下,可實(shí)現(xiàn)自動測量。

 

輪廓驅(qū)動測量

X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。

*SV-C4100S4型、H4型、W4型;L為驅(qū)動長度,H為測量高度(mm)

SV-C4100系列的輪廓驅(qū)動器配備了激光全息測微計(jì)測頭,Z1軸寬/窄范圍均能達(dá)到極高的精度和分辨率。

 

基本技術(shù)參數(shù):

基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

基座材料:花崗巖

重量

 主機(jī):140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

 控制器:14kg

 遙控箱:0.9kg

電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

能耗:400W(主機(jī))

 

輪廓測量技術(shù)參數(shù):

X軸

 測量范圍:100mm或200mm

 分辨率:0.05μm

 檢測方法:反射型線性編碼器

 驅(qū)動速度:80mm/s、外加手動

 測量速度:0.02-5mm/s

 移動方向:向前/向后

 直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

*以X軸為水平方向上

 直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

 精度(20°C時(shí))±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

*L為驅(qū)動長度(mm)

 傾角范圍:±45°

Z2軸(立柱)

 垂直移動:300mm或500mm

 分辨率:1μm

 檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

 驅(qū)動速度:0-20mm/s、外加手動

Z1軸(檢測器)

 測量范圍:±25mm

 分辨率:0.2μm(SV-C3100),

 0.05μm(SV-C4100)

 檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),

 激光全息測微計(jì)(SV-C4100)

 直線

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