光電子能譜儀供應(yīng)商|專(zhuān)業(yè)供應(yīng)光電子能譜儀|禹重供 1. 綜述 Ulvac-Phi是超高真空表面分析儀器供應(yīng)商。Ulvac-Phi創(chuàng)新的XPS、AES和SIMS技術(shù)，提供客戶(hù)以獨(dú)有的工具來(lái)解決具挑戰(zhàn)性的器材問(wèn)題，從而令客戶(hù)加快發(fā)展新產(chǎn)品和及新技術(shù)。作為提供全方位（面）的高性能XPS、AES和SIMS表面分析儀器的唯一供應(yīng)商，向廣泛高科技領(lǐng)域上的潛在客戶(hù)（包括納米技術(shù)、微電子技術(shù)、存儲(chǔ)介質(zhì)、催化、生物材料、藥品 基本材料如金屬、礦物、聚合物、復(fù)合材料和涂料）提供完整的表面分析解決方案上，Ulvac-Phi具有獨(dú)特的地位。 X 射線光電子能譜（XPS）是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中最廣泛使用的表面分析技術(shù)。其原理是利用X射線束（一般會(huì)使鋁陽(yáng)極或鎂陽(yáng)極）作為入射源，照射在樣品表面導(dǎo)致讓光電子從原子的核心層被激發(fā)出。根據(jù)測(cè)得的光電子所發(fā)出的電子動(dòng)能，再依照能量守恒定律就可以知道電子的結(jié)合能，從而也就可知道樣品表面是何物質(zhì)。 The PHI 5000 Versaprobe II (VP-II) 能提供高性能的微區(qū)光譜，化學(xué)成像，二次電子成像，其最小的X射線束光柵掃描直徑約為10微米。X射線束的大小可以輕易的使用電腦控制在直徑10微米到400微米設(shè)定，從而達(dá)到最好的空間解釋度與最高的靈敏度。VP-II 可以輕易的對(duì)不管是導(dǎo)體或非導(dǎo)體獲取化學(xué)態(tài)的成像 或是離子濺射的深度分析，樣品例子如催化劑，金屬和電子設(shè)備，玻璃和聚合物，甚至是生物材料和組織等等。 VP-II 維持了PHI 5000 Versaprobe的核心能力，包括掃描和聚焦 X 射線，專(zhuān)利的離子與電子雙中和系統(tǒng)，以及可以在極低電壓也可工作的高效能離子槍?zhuān)涣碛锌蛇x項(xiàng)配置C60離子槍?zhuān)峁┝嗽S多有機(jī)材料獨(dú)特而強(qiáng)大的濺射深度剖析能力；另外，一個(gè)完全自動(dòng)化的五軸樣品操盤(pán)促進(jìn)多個(gè)樣品的自動(dòng)分析并提供Zalar旋轉(zhuǎn)“Zalar RotationTM”的能力，可配合氬氣離子束或可選項(xiàng)配置的C60來(lái)進(jìn)行濺射深度剖析。最后，全新的操作界面SMARTSOFT-XPS，提供多技術(shù)儀器控制一個(gè)易于使用的平臺(tái)。在數(shù)據(jù)解釋和操縱總結(jié)中，對(duì)VP-II 的性能有著明顯的提高。 2. 特點(diǎn)最小的X射線束：X射線源的產(chǎn)生，是經(jīng)由使用一個(gè)聚焦的電子束掃描在鋁陽(yáng)極時(shí)，此產(chǎn)生的掃描X射線后再經(jīng)由一石英晶體的單色器聚焦并反射樣品表面。VP-II 所取得的最小X-ray探頭尺寸是10um，當(dāng)中完全不需要使用有任何風(fēng)格的孔徑，就可以以計(jì)算機(jī)控制X射線的大小。以下圖片顯示VP-II 上X射線束的聚焦和掃描性能。精準(zhǔn)的樣品分析區(qū)域：以類(lèi)似SEM功能的SXI 圖像， 可以實(shí)時(shí)的顯示樣品的表面形貌。 用戶(hù)可以很方便地導(dǎo)航SXI圖像，然后很容易地以選擇分析來(lái)定義分析的區(qū)域。即使在正常的照片圖像中看不見(jiàn)的特征，從SXI 圖像就或許可以很容易地被發(fā)現(xiàn)和定位。(以下圖四作出共中實(shí)例) 最高的靈敏度與最小的X-ray束斑：PHI VersaProbe II是由獲得專(zhuān)利的高通量X射線源來(lái)提供一個(gè)聚焦的X射線束，可根據(jù)樣品表面掃描。 VP-II 多功能的技術(shù)平臺(tái)：根據(jù)研發(fā)的需要，以下是 VP-II 的可選項(xiàng)配備 - 10keV的C60離子槍 - 雙陽(yáng)極，非單色X射線源 - 紫外線光源 - 95毫米的樣品處理 - 熱/冷樣品處理 - 可選的AES電子槍 - 真空轉(zhuǎn)移平臺(tái) (Vacuum Transfer Vessel) 3. 應(yīng)用 Ulvac-Phi VP-II在納米技術(shù)、微電子技術(shù)、存儲(chǔ)介質(zhì)、催化、生物材料、藥品、基本材料如金屬、礦物、聚合物、復(fù)合材料和涂料等方面提供完整的表面分析解決方案包括表面的元素與化學(xué)態(tài)分析（氫和氦除外）： - 表面物種的化學(xué)狀態(tài)的識(shí)別，包括有機(jī)和無(wú)機(jī)材料，導(dǎo)體和絕緣體。 - 深入薄膜中的組成元素分布概況，包括半導(dǎo)體、薄膜結(jié)構(gòu)，磁介質(zhì)薄膜，光學(xué)鍍膜，裝飾涂料，和耐磨涂層。 - 在必須避免會(huì)對(duì)電子束技術(shù)有破壞性效果時(shí)的樣品成分分析。網(wǎng)址：http://www.uzong.cn/instruments/physics/xps/83-versaprobe.html 固定電話(huà)：021-54305890 手機(jī)：13501754941 Q Q：331412846 400電話(huà)：400-808-4598 官網(wǎng)網(wǎng)址：www.uzong.cn