錫錠純度成分測(cè)試
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容大檢測(cè)提供項(xiàng)目：
GDMS檢測(cè)    鍍層測(cè)試  涂層測(cè)試  薄膜測(cè)試   純質(zhì)測(cè)試   
高純材料測(cè)試     合金雜質(zhì)分析      碳成分分析        
半導(dǎo)體材質(zhì)測(cè)試  硅檢測(cè)  硅純度測(cè)試       氧化物測(cè)試  
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半導(dǎo)體雜質(zhì)分析  非導(dǎo)體檢測(cè)  AES檢測(cè)  污染物測(cè)試   污染物判定   
未知物成分分析  未知物雜質(zhì)測(cè)試  石墨材料檢測(cè)   雜質(zhì)分析  
本公司采用先進(jìn)儀器GD/MS  AES等，可以檢測(cè)73種元素，精確范圍可以到十億分之一，純度可以檢測(cè)到8個(gè)9 純度。
檢測(cè)要求：2*2*20mm或者直徑為2cm的圓，厚度大于50微米?？梢酝藰樱粫?huì)破壞厚度為50微米的厚度！