介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了完美的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。

    介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)最高的160MHz。采用了多項(xiàng)領(lǐng)先技術(shù)：

1.    雙掃描技術(shù)  -  測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

2.    雙測(cè)試要素輸入  -  測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。

3.    雙數(shù)碼化調(diào)諧  -  數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4.    自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)  -對(duì)測(cè)試件實(shí)施  Q  值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

5.    全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、  Q  值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

6.    DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源  -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7.    計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路最優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至最低，徹底根除  Q  讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。   

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

Q 值測(cè)量范圍：   2～1023  ， 量程分檔：  30、100、300、1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

固有誤差≤5％±滿度值的2  ％（200kHz～10MHz），≤6％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差≤7％±滿度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測(cè)量范圍：        4.5nH  ～  140mH 

電容直接測(cè)量范圍：1  ～  200pF 

主電容調(diào)節(jié)范圍：  18  ～  220pF 

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度：120pF以下±1.2pF  ；  120pF以上±1％

信號(hào)源頻率覆蓋范圍：  100kHz～160MHz 

頻率分段（虛擬）：  100～999.999kHz  ，  1～9.99999MHz，10～99.9999MHz，  100～160MHz 

頻率指示誤差：    3×10-5±1個(gè)字 

測(cè)試夾具參數(shù)：

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選   
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測(cè)微桿分辨率：0.001mm

電感組參數(shù)：

線圈號(hào)      測(cè)試頻率                  Q值        分布電容p            電感值   
  9         100KHz             98       9.4               25mH
  8         400KHz           138     11.4             4.87mH
  7         400KHz