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測試芯片的過程就是由80C31單片機、74HC573(功能等同74HC373,只是引腳排列不同)、EPROM 27C256組成的單片機系統(tǒng)用存儲在EPROM 27C56 內(nèi)的芯片的邏輯數(shù)據(jù)與芯片的實際輸入輸出邏輯關(guān)系逐一進行比較,如果相同則確定是該型號芯片。然后把型號送到顯示電路,并發(fā)出一短音提示。如沒有與被測試芯片相同邏輯關(guān)系的數(shù)據(jù),則認為是壞芯片或是其它種類的芯片,這時顯示999,并有三聲短音提示。TTL74/54、CMOS40/45 系列芯片的引腳基本上在14~20這個范圍。測試時無論被測芯片引腳多少,芯片的1腳恒定在測試座的1腳,這就把1腳對邊的正電源腳Vcc固定在測試座的20腳上,由此腳為被測芯片提供+5V電源。根據(jù)被測芯片引腳的多少,電源地由測試座的7~10腳提供。由于測試中測試座除了10腳和20腳其余各腳要即能作為輸入也能作為輸出。80C31的 P1口、P3 口正好能滿足要求。因為它們是有上拉電阻的開漏極輸出,當作為輸入時可被輸入的低電平拉低。由于80C31可用的I/O口不夠用,所以擴展了一個與 80C31類似的8位準雙向I/O口。由74HC573(8D鎖存器)74HC05(6非門, 開漏極輸出 ) 、74HC245(8三態(tài)雙向緩沖器)、三極管VT1~VT4等元件組成,137 9855 6637,黃先生,頻譜分析儀http://www.china-mch.com
1、接通電源,將待測集成塊的腳“1”對準集成電路插座上的腳“1 ”恒定位置,插入插座并鎖緊。
2、連續(xù)按動“系列選擇”鍵,從LCD顯示屏上選出所需的系列號。如74、40、45。
3、按動“型號測試”鍵,對IC進行測試。如果IC性能合格, 儀器將顯示其型號,并嗚笛一聲;如果IC未能通過測試,儀器將嗚笛三聲(LCD 仍然顯示所選的系列號),此時,測試人應(yīng)從插座上取下IC,認真檢查所有管腳,排除短路、斷路及插座接觸不良等故障后再次測試,仍然不能通過測試的IC,應(yīng)判為不合格。
4、多片同型號IC測量時,應(yīng)先按“型號測試”測出首片型號,再按“性能測試”鍵,測余下的IC。(在“性能測試”狀態(tài)下,儀器不再搜索IC型號,因此測量時可大幅度節(jié)省時間和電池能量。)IC性能合格,儀器將顯示其型號;IC 性能不合格時,儀器將顯示“999”,并嗚笛三聲。
5、對于不知名的數(shù)字集成電路,可以按74、40、45三個系列分別進行測試,最終將測出它的型號。
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注意事項:
1、測量IC前,應(yīng)清理管腳,排除可能造成接觸不良的因素。
2、測量IC時,應(yīng)牢記“對號入座”,避免IC插反。
3、儀器長期不用,應(yīng)打開后蓋,取出電池,避免電池液流出腐蝕儀器。
公司名稱:深圳市美創(chuàng)儀器儀表有限公司
頻譜分析儀:http://www.china-mch.com
負責人:黃先生
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