儀器簡介：
Staib Instruments RHEED--反射高能電子衍射儀  

    Staib Instruments GmbH成立于1987年，公司位于德國南部城市慕尼黑附近。是一家專業(yè)研發(fā)和生產(chǎn)先進(jìn)表面分析設(shè)備的公司，公司有眾多在儀器設(shè)備和電子技術(shù)方面擁有豐富經(jīng)驗的研發(fā)人員，開發(fā)了許多的世界一流表面科學(xué)分析儀器。 

應(yīng)用 
Staib instruments RHEED系統(tǒng)可以實時監(jiān)控表面結(jié)構(gòu)，所以可以被廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域： 

? 結(jié)晶學(xué)(Crystallography) 
? 超導(dǎo)體(Superconductors) 
? 分子束外延生長Molecular beam epitaxy (MBE) 
? 化學(xué)氣相沉積Chemical vapor deposition 
? 激光脈沖沉積（PLD）、有機(jī)分子化學(xué)氣相沉積(MoCVD) 
? 冶金(Metallurgy) 
? 薄膜制備(Thin film deposition) 
? 涂層(Coatings) 

其他產(chǎn)品： 

離子誘導(dǎo)電子發(fā)射顯微鏡 IEEM 

- 多維、高分辨單-離子核顯微分析技術(shù) 
- 可以對半導(dǎo)體和微電子設(shè)備中的電荷聚集和單離子誘導(dǎo)效應(yīng)進(jìn)行顯微成像 
- 可以對半導(dǎo)體中載流子遷移和載流子壽命進(jìn)行顯微成像 
- 使用便宜、微聚焦的離子束或是alpha粒子作為源



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