TSI3321空氣動力學粒徑譜儀特點與優(yōu)勢雙峰光學系統(tǒng)產(chǎn)生高精度檢測。測量0.37至20μm粒子的光散射強度測量0.5至20μm粒子的空氣動力學粒徑 TSI3321空氣動力學粒徑譜儀產(chǎn)品詳情3321空氣動力學粒徑譜儀(APS?)提供0.5至20微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測0.37至20微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。APS粒徑譜儀使用取得專利*的雙峰光學系統(tǒng)，具有無與倫比的粒徑檢測精度。它還包括新設計的噴嘴結(jié)構(gòu)和改進的信號處理。因此，它具有更大的小粒徑檢測效率、提高的質(zhì)量分布精確度并有效消除錯誤背景計數(shù)。 TSI3321空氣動力學粒徑譜儀應用吸入毒理學給藥研究大氣研究環(huán)境空氣監(jiān)測室內(nèi)空氣質(zhì)量監(jiān)測濾料和空氣清潔器測試測試氣溶膠特性粉塵粒徑檢測TSI3321空氣動力學粒徑譜儀所含項AerosolInstrumentManager?軟件